Jesteś gościem nr:
532407
|
|
|
Szczegóły artykułu:
Wydawnictwo: Academic Journals Poznan University of Technology
Numer: 95/2018 Str: 67
Autorzy: Kamil Bargieł, Damian Bisewski
Tytuł: OCENA DOKŁADNOŚCI FIRMOWEGO MAKROMODELU TRANZYSTORA SiC-JFET
Streszczenie: W pracy zaprezentowano wyniki weryfikacji eksperymentalnej makromodelu tranzystora JFET wykonanego z węglika krzemu o symbolu UJN1208K firmy United Silicon Carbide. Postać makromodelu jest dedykowana dla programu PSPICE i została udostępniona na stronie internetowej producenta. Oceniono dokładność makromodelu poprzez porównanie wybranych obliczonych i katalogowych charakterystyk statycznych oraz charakterystyk C(u) rozważanego tranzystora. Przeanalizowano wpływ temperatury otoczenia na wymienione charakterystyki tranzystora.
Słowa kluczowe: JFET, makromodel, węglik krzemu.
[PDF]
|
|
|