Skip Navigation Links
Strona główna/Home
Rada Naukowa/Scientific Council
Redakcja/Editorial office
Dla Autorów/For Authors
Recenzenci/Reviews
Wyszukaj/Search
Archiwum/Archives
Kontakt/Contact
Prenumerata/Subscription

Jesteś gościem nr:
532471
   

Szczegóły artykułu:

Wydawnictwo: Academic Journals Poznan University of Technology

Numer: 95/2018 Str: 243


Autorzy: Krzysztof Dziarski


Tytuł: SZACOWANIE WARTOŚCI TEMPERATURY ZŁĄCZA PÓŁPRZEWODNIKOWEGO NA PODSTAWIE WARTOŚCI TEMPERATURY WYPROWADZENIA DIODY


Streszczenie: W niniejszym artykule przedstawiono związek pomiędzy wartością temperatury wyprowadzenia i wartością temperatury złącza diody półprzewodnikowej w obudowie do montażu powierzchniowego. Przedstawiono parametry wybranych diod półprzewodnikowych. Omówiono metodykę przeprowadzonych badań i skonstruowany układ pomiarowy. Zaprezentowano sposób szacowania temperatury złącza diody półprzewodnikowej na podstawie charakterystyki wiążącej wartość spadku napięcia UF i wartość temperatury. Przedstawiono dobór wartości współczynnika emisyjności wyprowadzenia ε pozwalający uzyskać wystarczająco dokładną wartość temperatury wyprowadzenia, na podstawie której możliwe jest oszacowanie wartości temperatury złącza. Dodatkowo przedstawiono zastosowaną kamerę termowizyjną.


Słowa kluczowe: dioda półprzewodnikowa, wartość temperatury złącza, wypro-wadzenie, termowizja.


[PDF]