Jesteś gościem nr:
532471
|
|
|
Szczegóły artykułu:
Wydawnictwo: Academic Journals Poznan University of Technology
Numer: 95/2018 Str: 243
Autorzy: Krzysztof Dziarski
Tytuł: SZACOWANIE WARTOŚCI TEMPERATURY ZŁĄCZA PÓŁPRZEWODNIKOWEGO NA PODSTAWIE WARTOŚCI TEMPERATURY WYPROWADZENIA DIODY
Streszczenie: W niniejszym artykule przedstawiono związek pomiędzy wartością temperatury wyprowadzenia i wartością temperatury złącza diody półprzewodnikowej w obudowie do montażu powierzchniowego. Przedstawiono parametry wybranych diod półprzewodnikowych. Omówiono metodykę przeprowadzonych badań i skonstruowany układ pomiarowy. Zaprezentowano sposób szacowania temperatury złącza diody półprzewodnikowej na podstawie charakterystyki wiążącej wartość spadku napięcia UF i wartość temperatury. Przedstawiono dobór wartości współczynnika emisyjności wyprowadzenia ε pozwalający uzyskać wystarczająco dokładną wartość temperatury wyprowadzenia, na podstawie której możliwe jest oszacowanie wartości temperatury złącza. Dodatkowo przedstawiono zastosowaną kamerę termowizyjną.
Słowa kluczowe: dioda półprzewodnikowa, wartość temperatury złącza, wypro-wadzenie, termowizja.
[PDF]
|
|
|